Микроскопы электронные сканирующие - CEM
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) — это мощный метод визуализации, позволяющий получать детализированные трёхмерные изображения поверхности образцов с высоким разрешением. В отличие от оптических микроскопов, СЭМ использует пучок электронов, что обеспечивает значительно более высокое разрешение (до 1 нм) и большую глубину резкости. Этот метод нашёл широкое применение в науке и промышленности благодаря своей универсальности и способности анализировать разнообразные материалы.
Преимущества СЭМ
- Высокое разрешение: возможность визуализации структур размером до 1 нм.
- Создание чётких трёхмерных изображений даже неровных поверхностей.
- Универсальность: анализ проводящих и непроводящих образцов (при использовании покрытий или низковакуумного режима).
- Химический анализ: интеграция с EDS для определения состава материала.
- Широкий диапазон увеличений: от 20x до более чем 1,000,000x.
Применение
- Материаловедение: изучение микроструктуры металлов, сплавов, полимеров и композитов; анализ дефектов и трещин.
- Биология и медицина: исследование клеточных структур, тканей, микроорганизмов и биоматериалов.
- Нанотехнологии: контроль качества наноструктур, полупроводников и нанопокрытий.
- Геология: анализ минералов, горных пород и ископаемых.
- Криминалистика: исследование следов, волокон, пороха и других микрообъектов.
- Электроника: проверка качества микрочипов и печатных плат.
Сканирующая электронная микроскопия — это незаменимый инструмент для высокоточного исследования поверхности материалов и биологических объектов. Благодаря высокой разрешающей способности и возможности химического анализа, СЭМ остаётся лидером в визуализации микро- и наноструктур. Если у Вас остались вопросы, то Вы можете задать их нашим специалистам и заказать сканирующий электронный микроскоп по выгодной цене.
